お知らせ
「外観検査アルゴリズムコンテスト2015」にて2年連続優秀賞受賞
2015年12月3日
株式会社リコー
株式会社リコーは、公益社団法人 精密工学会 画像応用技術専門委員会主催の「外観検査アルゴリズムコンテスト2015」において、2014年度に続き2年連続で優秀賞を受賞しました。
「外観検査アルゴリズムコンテスト」は、精密工学会の画像応用技術専門委員会が、画像を用いた外観検査技術の発展を図る活動の一環で2001年から実施しているものです。昨年度に引き続き今年度も、製造工程における欠陥品および異常箇所を検出するソフトウエアの精度を競いました。
このたび、「リコーICT研究所」（神奈川県横浜市）の田中 拓哉、笠原 亮介、澤木 太郎が開発したプログラムが高い正答率を出したことから優秀賞をいただきました。
リコーは、少ないサンプル画像でも高い精度で対象物の異常を検出する技術を開発し、技術力の向上に努めてまいりました。今回コンテストに応募したプログラムは、この技術を製造分野における外観検査に適用したもので、前回からさらに改良しました。今後、産業分野へのさらなる応用が期待されます。
なお、この技術に関するインタラクティブ講演が、12月4日パシフィコ横浜アネックスホール（神奈川県横浜市）で開催されている「ViEW2015」にて行なわれます。
| リコーグループについて |
リコーグループは、オフィス向け画像機器、プロダクションプリントソリューションズ、ドキュメントマネジメントシステム、ITサービスなどを世界約200の国と地域で提供するグローバル企業です（2015年3月期リコーグループ連結売上は2兆2,319億円）。
人と情報のかかわりの中で新しい価値を生む製品、ソリューション、サービスを中心に、デジタルカメラや産業用の製品など、幅広い分野で事業を展開しています。高い技術力に加え、際立った顧客サービスや持続可能社会の実現への積極的な取り組みが、お客様から高い評価をいただいています。
想像力の結集で、変革を生み出す。リコーグループは、これからも「imagine. change.」でお客様に新しい価値を提供していきます。
より詳しい情報は、下記をご覧ください。
http://jp.ricoh.com/
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