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お知らせ

「外観検査アルゴリズムコンテスト2014」優秀賞受賞

2014年12月4日
株式会社リコー

  株式会社リコーは、公益社団法人 精密工学会 画像応用技術専門委員会主催の「外観検査アルゴリズムコンテスト2014」において優秀賞を受賞しました。

  「外観検査アルゴリズムコンテスト」は、精密工学会の画像応用技術専門委員会が、画像を用いた外観検査技術の発展を図る活動の一環で2001年から実施しているものです。今年度は、製造工程における欠陥品および異常箇所を検出するソフトウエアの精度を競いました。
  このたび、「リコー技術研究所」(神奈川県横浜市)の笠原 亮介、田中 拓哉、澤木 太郎、山田 佑が開発したプログラムが高い正答率を出したことから優秀賞をいただきました。

  リコーは、少ないサンプル画像でも高い精度で対象物の異常を検出する技術を開発いたしました。今回コンテストに応募したプログラムは、この技術を製造分野における外観検査に適用したものです。今後、産業分野への応用が期待されます。

  なお、この技術に関するインタラクティブ講演が、12月5日パシフィコ横浜アネックスホール(神奈川県横浜市)で開催されている「ViEW2014」にて行なわれます。


| リコーグループについて |

リコーグループは、オフィス向け画像機器、プロダクションプリントソリューションズ、ドキュメントマネジメントシステム、ITサービスなどを世界約200の国と地域で提供するグローバル企業です(2014年3月期リコーグループ連結売上は2兆1,956億円・国際会計基準)。
人と情報のかかわりの中で新しい価値を生む製品、ソリューション、サービスを中心に、デジタルカメラや産業用の製品など、幅広い分野で事業を展開しています。高い技術力に加え、際立った顧客サービスや持続可能社会の実現への積極的な取り組みが、お客様から高い評価をいただいています。
想像力の結集で、変革を生み出す。リコーグループは、これからも「imagine. change.」でお客様に新しい価値を提供していきます。
より詳しい情報は、下記をご覧ください。
http://jp.ricoh.com/

このページの内容は発表時のものです。
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